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美國4DTechnology干涉儀
美國4DTechnology公司推出的動態(tài)激光干涉儀,采用新的瞬時相移干涉技術(shù)(SPSI),大大縮短了干涉測量時間,不*能達(dá)到傳統(tǒng)相移干涉儀的精度和可靠性,而且無需普通干涉測量必需的防振臺;適合于大口徑、長焦距光學(xué)元件的測量,可以應(yīng)用于光學(xué)系統(tǒng)現(xiàn)場檢驗(yàn)、復(fù)雜/惡劣環(huán)境的光學(xué)檢驗(yàn),并能進(jìn)行連續(xù)的動態(tài)測量,甚至對光學(xué)表面的變化過程進(jìn)行測量。
4D公司的產(chǎn)品一經(jīng)推出,便在先進(jìn)激光、空間光學(xué)、天文光學(xué)等領(lǐng)域得到了迅速的應(yīng)用,并獲得多項榮譽(yù),其中包括自2004年以來連續(xù)3年榮獲的R&D100獎。
4DTechnology產(chǎn)品系列:
菲索型干涉儀 FizCam系列
口徑:100mm 到 800mm
包括F1500、F2000、F3000型
適合于平面、球面、凸球面的遠(yuǎn)程測量
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